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＜図書＞
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦 編著 ; 西田亜希子 著

データ種別	図書
出版者	京都 : ナカニシヤ出版
出版年	2022.9
本文言語	日本語
大きさ	ix, 239p ; 26cm
著者標目	光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ>
件　名	BSH:入学試験 (大学) NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育)
分　類	:376.8
書誌ID	1000377395
ISBN	9784779516832
NCID	BC17143066

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