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<図書>
何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J・ガーゲン, シェルト・R・ギル 著 ; 東村知子[等] 訳

データ種別 図書
出版者 京都 : ナカニシヤ出版
出版年 2023.3
本文言語 日本語
別書名 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
大きさ viii, 223p ; 21cm
著者標目 Gergen, Kenneth J.
Gill, Scherto R.
件 名 BSH:教育評価
分 類 :371.7
書誌ID 1000377480
ISBN 9784779517044
NCID BD00745593
目次/あらすじ

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千代田/3F開架
371.7/G36 004073927
9784779517044

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