<図書>
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦 編著 ; 西田亜希子 著
データ種別 | 図書 |
---|---|
出版者 | 京都 : ナカニシヤ出版 |
出版年 | 2022.9 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | ix, 239p ; 26cm |
著者標目 | 光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ> |
件 名 | BSH:入学試験 (大学) NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) |
分 類 | :376.8 |
書誌ID | 1000377395 |
ISBN | 9784779516832 |
NCID | BC17143066 |
目次/あらすじ
類似資料
この資料を借りた人はこんな資料も借りています
この資料の利用統計
このページへのアクセス回数:1回
※2014年9月1日以降
全貸出数:1回
(3か月以内の貸出:0回)
※1996年3月30日以降